デバイス基板となる誘電体平板材料の複素誘電率(比誘電率と誘電正接)をミリ波帯において、高精度かつ高能率に測定するための遮断円筒導波管法を確立した。さらに、本測定法の測定結果を応用し、ミリ波高温超電導フィルタの設計およびその実現問題に取り組んできた。また、遮断円筒導波管法は、ファインセラミックスのミリ波帯における誘電特性測定方法として、JIS(Japanese Industrial Standard)規格にJIS R 1660-1:2004 “ファインセラミックスのミリ波帯における誘電特性測定方法-第1部:遮断円筒導波管方法”として採用された。また、IEC(International Electro technical Commission)規格にもIEC 61338-1-4: 2005 “Waveguide type dielectric resonators – Part 1-4: General information and test conditions – Measurement method of complex relative permittivity for dielectric resonator materials at millimeter-wave frequency”としても採用された。